首页|产品中心
English
EMC试验场地确认测试技术研讨会在上海举办
作者:  日期:2013-08-07  浏览次数:1781次  来源:
分享到:

4月19日,由全国无线电干扰标准化委员会举办的“EMC试验场地确认测试技术研讨会”在上海港鸿酒店顺利召开,研讨会主要针对开阔场,半电波暗室,全电波暗室的测试技术即场地归一化衰减(NSA)和场地电压驻波比(VSWR)测试展开交流讨论。目的保证测试场地的精准度和稳定性,满足测试结果的一致性,可比性。

1.校验场地时,全用不同类型的天线对场地校验结果的影响。主要是实际使用的电线并不是理想型的天线,发射并不是全向,造成测试结构出现偏差。

2.校验场地结果出现偏离,不符合标准要求,需要考虑的问题方向和原因。主要是电磁波的反射路径(采取偏置法)。

3.CISPR 16和ANSI C63.5针对场地测试的差异及其测试方法(FAR方法)参考试验室法。

来自全国EMC各个领域的专家、学者达100多人参加了此次会议,通过此次研讨会对于国内电波暗室建造验收,提供更新的标准支持

 

上一篇:第三代高端产品6月展会齐亮相...
下一篇:2010中国(成都)电子展顺利结束...
·【直播预告】DC 540V电源...
·展讯 | 泰思特电子闪耀202...
·干货分享 | IEC 6100...
----------------------------
·探讨电磁干扰的危害与电磁兼容技...
·IEC61000-4-5:20...
·新能源汽车线束布置方案及EMC...
----------------------------
·新品发布:高压大功率人工电源网...
·新品发布:宽范围可调节预充电回...
·新品发布:手持式静电放电模拟器...
----------------------------
·泰思特2025年展会/研讨会一...
·泰思特2018年展会信息一览表...
·泰思特2017年展会信息一览表...
----------------------------