在使用相同仪器的基础上，在强载波或脉冲干扰下，怎样简化实验步骤，更快地估测模型或其他某些附件的抗干扰能力。这些干扰可能来自以下渠道：
       a.系统的其他部分（系统内部的电磁干扰），这些部分未被作为系统的整体加以处理。
       b.特定类型的环境干扰。对模型进行测试必须依据一套限定的标准，并要在辐射测试完成后，搞清其不符合规范的地方。
       注意：在这些测试中，要在合理的范围内尽量达到被测设备实际的敏感度门限，这是为了得到与抗干扰能力相适应的兼容范围。
       一、测试场合的最低要求
       正规的敏感度测试对场合的要求除了对射频环境的要求有所不同外，基本上与辐射测试要求相同：
       射频环境的考虑。这里不需要干净的射频环境。恰恰相反，在敏感性测试过程中需要发射强高频或脉冲干扰，这可能会干扰系统周围的其他设备。因此明智的做法是在离测试系统5m以内的范围内停止使用敏感性电子设备，如测试仪器（用EMC测试仪器的除外）、计算机、办公室设备、示波器等。
       电源线的滤波和隔离。基于上述相同的原因，建议对待测设备的电源电路进行滤波，如果有可能的话可以进行隔离。曾在辐射测试使用的LISN，可与隔离变压器一起用在此处。
测试接地板与辐射测试的要求相似（ESD测试中的间接静电放电除外，它可能需要一组不同的金属平板）。
       二、传导敏感性测试的准备工作
       对于所有的敏感性或抗干扰性实验，都需要将待测设备设置在自动工作（最好自成回路）模式，这样被测设备处在连续的正常工作状态。这可以通过使用一种自测试模式或特殊的仿真软件来实现：
       1、连续运行被测设备电路，尽可能的仿真其在没有操作者干预情况下的、真正的工作状态。
       2、能由以下方法清楚的指示一个误操作：显示一个措施数据、打印一个报告、复位或死锁、激活一个发光二极管或一个蜂鸣器等。
       三、瞬时脉冲干扰
       在所有的EMC实验中，瞬时脉冲干扰测试系统的搭建是最简单、运行最容易、最有意义的实验之一。由于其频谱范围宽，从乾和兹覆盖到至少60MHz，用它能测试出大多数数字设备和模拟设备在电磁兼容方面的缺陷。脉冲的包络可能被逻辑电路误认为一系列有效的比特，而单个的窄脉冲会触发对边沿敏感的门电路。对于模拟电路，脉冲包络能被灵敏的放大器检测到，这与脉冲调制的载波干扰相似。
       因为它相当于模拟来自附近电源设备的开关瞬态过程（触点重复动作等）的耦合，根据IEC801-4或1000-4-4的规范，此实验不仅适用于电源电缆上，也适用于任何信号/控制电缆上。
       测试仪器和系统搭建：
       A.瞬变脉冲群发生器遵从相关标准
       B.使用一个容性耦合夹或30-50cm宽的铝箔
       由于在电源线上叠加了高频脉冲，所以瞬变脉冲群发生器包含了一个与LISN相似的高通耦合/去耦网络，这样被测设备的电源线可直接连接到发生器的电源输出。瞬时脉冲的注入在发生器内部完成。注入脉冲必须是加在导线与接地板之间，是共模信号。如果发生器内没有这样合适的交流耦合网络，或者如果EUT电源线无法连接发生器的输出插座上，则可以选择使用容性耦合夹注入的方式。
       四、ESD测试
       ESD是引发EUT故障的主要因素之一。ESD不仅覆盖极宽的频谱范围，而且当以传导方式耦合时会产生极强的电磁场。与主要通过在电缆上施加干扰的EFT测试过程相比，ESD测试能够暴露出机箱屏蔽层和PCB外层的不足。从某种意义上讲，这是将在真正的RF测试中原本要半小时才能完成的较宽的频谱范围的测试过程一下缩短到只需100ns.
       所用仪器：静电放电发生器、场耦合金属板（如果EUT必须进行间接esd测试）